艾微檢測(cè)/IV Testek

1 年前
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經(jīng)營(yíng)范圍:計(jì)量技術(shù)服務(wù);信息技術(shù)咨詢服務(wù);信息咨詢服務(wù)(不含許可類(lèi)信息咨詢服務(wù))。(除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目外,憑營(yíng)業(yè)執(zhí)照依法自主開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng))許可項(xiàng)目:檢驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門(mén)批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng),具體經(jīng)營(yíng)項(xiàng)目以審批結(jié)果為準(zhǔn)) 企業(yè)簡(jiǎn)介:艾微檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)(西安)有限公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“艾微檢測(cè)”)于2022年4月21日成立,位于西安市高新區(qū)錦業(yè)路70號(hào)航天恒星園區(qū)3號(hào)廠房一層?xùn)|側(cè),專(zhuān)業(yè)從事電子元器件測(cè)試、篩選、失效分析及元器件標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量與可靠性技術(shù)等相關(guān)技術(shù)服務(wù)。艾微檢測(cè)秉承“以標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù),以檢測(cè)為手段”的質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ)發(fā)展理念,以可靠性集成電路技術(shù)為依托,搭建高可靠JG級(jí)、汽車(chē)級(jí)、工業(yè)級(jí)可靠性實(shí)驗(yàn)和檢測(cè)平臺(tái),建設(shè)模擬和混合信號(hào)可靠性和功能安全實(shí)驗(yàn)平臺(tái),服務(wù)JG級(jí)、汽車(chē)級(jí)、工業(yè)級(jí)高可靠性芯片檢測(cè)評(píng)估和性能分析,為高可靠性集成電路芯片設(shè)計(jì)提供硅驗(yàn)證級(jí)技術(shù)分析和設(shè)計(jì)指導(dǎo)。
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  • 設(shè)計(jì)需求2 年前
    標(biāo)志名稱(chēng)
    艾微檢測(cè)/IV Testek
    公司簡(jiǎn)介
    經(jīng)營(yíng)范圍:計(jì)量技術(shù)服務(wù);信息技術(shù)咨詢服務(wù);信息咨詢服務(wù)(不含許可類(lèi)信息咨詢服務(wù))。(除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目外,憑營(yíng)業(yè)執(zhí)照依法自主開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng))許可項(xiàng)目:檢驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門(mén)批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng),具體經(jīng)營(yíng)項(xiàng)目以審批結(jié)果為準(zhǔn)) 企業(yè)簡(jiǎn)介:艾微檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)(西安)有限公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“艾微檢測(cè)”)于2022年4月21日成立,位于西安市高新區(qū)錦業(yè)路70號(hào)航天恒星園區(qū)3號(hào)廠房一層?xùn)|側(cè),專(zhuān)業(yè)從事電子元器件測(cè)試、篩選、失效分析及元器件標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量與可靠性技術(shù)等相關(guān)技術(shù)服務(wù)。艾微檢測(cè)秉承“以標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù),以檢測(cè)為手段”的質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ)發(fā)展理念,以可靠性集成電路技術(shù)為依托,搭建高可靠JG級(jí)、汽車(chē)級(jí)、工業(yè)級(jí)可靠性實(shí)驗(yàn)和檢測(cè)平臺(tái),建設(shè)模擬和混合信號(hào)可靠性和功能安全實(shí)驗(yàn)平臺(tái),服務(wù)JG級(jí)、汽車(chē)級(jí)、工業(yè)級(jí)高可靠性芯片檢測(cè)評(píng)估和性能分析,為高可靠性集成電路芯片設(shè)計(jì)提供硅驗(yàn)證級(jí)技術(shù)分析和設(shè)計(jì)指導(dǎo)。
    設(shè)計(jì)建議
    艾微檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)(西安)有限公司為高科技型公司,專(zhuān)業(yè)從事電子元器件測(cè)試、篩選、失效分析及元器件標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量與可靠性技術(shù)等相關(guān)技術(shù)服務(wù)。為JG級(jí)、汽車(chē)級(jí)、工業(yè)級(jí)高可靠性芯片提供檢測(cè)評(píng)估和性能分析,為高可靠性集成電路芯片設(shè)計(jì)提供硅驗(yàn)證級(jí)技術(shù)分析和設(shè)計(jì)指導(dǎo)。

    參考案例

  • 王新宇的設(shè)計(jì)成功入圍2 年前
  • 譚家強(qiáng)的設(shè)計(jì)成功入圍2 年前
  • 周都響的設(shè)計(jì)成功入圍2 年前
  • 張俊的設(shè)計(jì)成功入圍2 年前
  • 譚家強(qiáng)的設(shè)計(jì)成功入圍2 年前
  • 吳曉偉的設(shè)計(jì)成功入圍2 年前
  • 初稿完成;項(xiàng)目進(jìn)入后期完善2 年前
    #40 by 李寧
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    #21 by 何嘉健
    #17 by 譚家強(qiáng)
    #16 by 張俊
    #14 by 王新宇
    #9 by 李泉輝
    #6 by 周都響
    #5 by 湯儒娟
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  • 吳曉偉#1作品成功中標(biāo)2 年前
    #1 by 吳曉偉